Biuro oddziału w Częstochowie
ul. Kopernika 16/18, 42-201 Częstochowa
tel./fax: (34) 324-46-54

Aktualności

Warto przeczytać w czasopismach SEP

– Czytnik OSL z nieliniową funkcją stymulacji optycznej – Autorzy: Ewa Mandowska, Robert Smyka, Arkadiusz Mandowski, Rafał Kieszkowski, Renata Majgier, – Stosy piezoelektryczne – Autor: Mateusz Pasternak, – Wpływ rzeczywistych warunków eksploatacji na sprawność komercyjnych modułów fotowoltaicznych – Autorzy: Szymon Rogowski, Natalia Szczecińska, Maciej Sibiński. Więcej informacji na www.elektronika.orf.pl.

Redaktor naczelny „Przeglądu Elektrotechnicznego” prof. dr hab. inż. Sławomir Tumański poleca następujące artykuły z październikowego numeru miesięcznika:

Autotransformatory międzysystemowe – Autor: Waldemar Ziomek,

Doświadczenia z badań odbiorczych i eksploatacyjnych linii kablowych wysokiego napięcia – Autorzy: Jarosław Parciak, Edward Gulski, Aleksandra Rakowska, Krzysztof Siodła,

Charakterystyka pracy stacji ładowania autobusów elektrycznych –Autor: Franciszek Sidorski.

Więcej informacji na: www.pe.org.pl

Redaktor naczelny „Przeglądu Telekomunikacyjnego. Wiadomości Telekomunikacyjnych” Bogdan Zbierzchowski poleca następujące artykuły z numeru 8-9/2018:

Projekt samonośnej struktury anteny liniowej – Autor: Katarzyna Jagodzińska,

O wykorzystaniu rachunku sieciowego w analizie ruchu w systemach komunikacji bezprzewodowej – Autor: Andrzej Borys,

Wykorzystanie elektronicznego dowodu tożsamości do bezpiecznego i wygodnego uwierzytelniania w usługach elektronicznych– Autor: Piotr Lewandowski.

Więcej informacji na: www.przegladtelekomunikacyjny.pl

Redaktor naczelny „Opto-Electronics Review” Leszek Roman Jaroszewicz poleca następujące artykuły z numeru 3/2018 kwartalnika:

Type-II superlattice detectors for free space optics applications and higher operating temperature conditions – Autorzy: K. Hackiewicz, J. Mikołajczyk,

Photoacoustic spectroscopy analysis of thin semiconductor samples – Autorzy: L. Bychto, M. Maliński,

Ternary photonic crystal with left-handed material layer for refractometric application – Autor: S. A. Taya

Więcej informacji na: www.journals.elsevier.com/opto-electronics-review





oprac. (JS)